Nghiên cứu sự ảnh hưởng của thông số công nghệ khi miết ép dao động đến sự hình thành quỹ đạo “vết” trên lớp bề mặt
Số 4 (75) 2021
Nguyễn Văn Hinh, Dương Thị Hà, Nguyễn Thị Liễu
Tạp chí NCKH - Đại học Sao Đỏ
2021/12/31

Bài báo này nghiên cứu ảnh hưởng của các thông số công nghệ khi miết ép có dao động đến sự hình thành quỹ đạo “vết” trên lớp bề mặt của chi tiết máy. Kết quả nghiên cứu thu được trên cơ sở thực hiện nghiên cứu lý thuyết và nghiên cứu thực nghiệm. Quỹ đạo vết của lớp bề mặt chi tiết sau khi miết ép dao động có ba dạng: song song, xen kẽ và đối xứng với nhau và nó phụ thuộc vào số vòng quay của phôi, bước tiến của dụng cụ, tần số dao động, biên độ dao động và góc xoay của dụng cụ.

"Vết” trên lớp bề mặt, miết ép dao động, góc nghiêng dụng cụ, chiều sâu miết ép, bước tiến dao, tần số dao động.
Tải về

 

Các bài báo khác