Tình trạng sức khỏe của pin (SOH) là một chỉ số quan trọng thể hiện trạng thái hiện tại của pin và việc dự báo được SOH của pin là điều cần thiết trong các hệ thống quản lý pin để đảm bảo pin hoạt động hiệu quả và an toàn. Các phương pháp dự báo dựa trên dữ liệu của pin đang cho thấy sự hiệu quả so với các phương pháp dựa trên mô hình. Bài báo sử dụng mô hình tự hồi quy phi tuyến tính có đầu vào ngoại sinh (NARX) để dự báo SOH của pin trước một chu kỳ và nhiều chu kỳ. Các đặc trưng được trích xuất trong quá trình sạc của pin từ bộ dữ liệu của NASA được dùng làm đầu vào của mô hình. Kết quả thu được cho thấy mô hình NARX có thể cải thiện các giá trị sai số đối với việc dự báo trước một chu kỳ. Các giá trị sai số trong việc dự báo trước nhiều chu kỳ cũng cho thấy độ chính xác cao
Năm 2025 
